PHASIC高分辨率波前传感器-四波横向剪切干涉
夏克-哈特曼（Shack-Hartmann）波前传感器
Phasics光学系统计量
光学元件和系统认证解决方案：调制传递函数 （MTF）、波前像差、表面测量......
Phasics为光学质量控制、光学系统对准和表面测量提供了一整套计量工具，专用于生产和研发环境。Phasics 的计量仪器涵盖从独立的波前传感器到自动测试站。解决方案从紫外到远红外，可进行全面测量，同时保持易于使用和多功能的计量仪器。测量参数包括：调制传递函数 （MTF） 波前像差、表面形状和表面质量。
镜头和组件测试
轻松设置单次 MTF 和 WFE 测量
Phasics 获得专利的 Quadri-Wave 横向剪切干涉测量法 （QWLSI） 波前传感技术的独特功能允许测量高数值孔径光束，而无需任何中继光学元件。这一独特优势简化了测量设置。在一次拍摄中，可以同时测量波前误差 （WFE） 和调制传递函数 （MTF）。物镜、子组件和最终组件的鉴定是完整且易于实施的。事实上，SID4 波前传感器只需放置在聚焦后几毫米的发散光束中即可。测量完成后，由于 Phasics 软件模块 DesignPro，可以将波前测量与理论 Zemax 模拟进行比较。一些测试协议仍然需要双通道测试配置，该配置也与 SID4 波前传感器兼容。
光学系统对准
紧凑便携的波前测量工具
Phasics SID4 波前传感器采用自参考波前传感技术，因此测量对环境和振动不敏感。此外，SID4 波前传感器与科学相机一样紧凑，可以处理准直会聚和发散光束的波前测量。这为集成和测量配置带来了灵活性。所有这些优势使 SID4 波前传感器成为解决光学实验室、生产车间和现场光学系统对准挑战的强大工具。
在其设计波长下测量光学和系统
镀膜光学元件在其设计波长下的波前误差计量：您的波长就是我们的标准！
无论它们具有光谱涂层还是简单的抗反射或高反射率涂层，大多数光学元件都是为了在特定的光谱范围内工作。因此，应在这些光学器件设计的光谱范围内给出光学性能和规格。摆脱 633 nm 激光干涉测量法的束缚，相信 Phasics 的波前误差计量技术是有意义的！您的波长是我们的标准。我们所有的波前传感器和计量机都基于我们获得专利的 Quadriwave 横向剪切干涉测量技术，该技术可提供真正的消色差透射和反射波前误差测量。
可靠的大型 CRA 和 FOV 镜头鉴定
调制传递函数、波前误差、镜头参数一键完成
Phasics 的波前传感技术即使在大视场 （FOV） 和大主光线角 （CRA） 的情况下也能为物镜提供精确的轴上和离轴 MTF 和 WFE。计量解决方案包括从独立的波前传感器到全自动测试站。由于所有这些解决方案都受益于 Phasics 独特的波前测量技术，因此它们可以执行可靠和全面的测量，同时保持易于使用的测量工具。镜头测试站（集成机器和光学测试台）和波前传感器提供 UV、NIR、SWIR、MWIR 和 LWIR 波段。Phasics的计量工具满足了研发和生产中对镜头质量控制的需求。
滤光片和偏振光学元件鉴定
滤光片和偏振光学元件在设计波长下的透射和反射波前误差
借助 Phasics 独特的 QWLSI 专利技术，可在其设计的工作波长下测试光谱滤光片，并以干涉精度测试偏振光学元件。Phasics 独立波前传感器和集成测试台结合了非消色差和偏振的测量，提供带通光谱滤波器以及偏振光学器件的透射波前误差 （TWE） 和反射波前误差 （RWE） 测量。只需调整探头波长以匹配光学元件的设计波长即可完成！
超光学和超表面鉴定
SID4-HR：用于超光学元件完整光学表征的强大且多功能的工具
用于光学应用（如超透镜）的超表面是一项令人兴奋且前景广阔的技术。它们体积小、易于大规模制造和成本效益高，将彻底改变许多行业的多种光学应用。Phasics 独特的波前传感器功能用于控制和测量构成超表面的纳米结构。此外，还可以测量超光学输出端的光学功能、成像质量或简单的波前形状。
表面计量
单次表面鉴定
当集成到反射装置中时，Phasics SID4 波前传感器可以进行表面表征。Kaleo 软件输出 3D 曲面图和凸面或凹面（如透镜、镜子或模具）的曲率半径。ISO 10110 标准定义的所有表面质量参数（例如表面不规则性、粗糙度和波纹度）都是根据此测量计算得出的。也可以从任何方向提取表面轮廓，并将结果与理论表面进行比较。
在热和真空条件下进行波前测试
即使在恶劣的条件下，它仍然是最好的光学计量工具
尖端的航空航天和国防光学器件需要在现场条件下进行测试。这可能包括湍流、振动、低温冻结、真空条件等。Phasics 的专利 QWLSI 技术在设计上非常紧凑，对振动不敏感。经过多年的具体开发，Phasics 提出了在恶劣环境中满足苛刻性能的设备。
