PHASIC高分辨率波前传感器-四波横向剪切干涉
夏克-哈特曼（Shack-Hartmann）波前传感器
Phasics激光检测控制
满足激光用户和制造商挑战的多功能波前传感器
Phasics 的波前传感器以其无与伦比的高分辨率和易用性而著称。一台仪器可以涵盖广泛的用途：光束测试、光学系统对准、自适应光学和等离子体表征。Phasics SID4波前传感器为研发工程师、生产团队和研究人员提供了全面的多功能性，无论是在超快速和超强的激光研究实验室还是在激光制造环境中。可以在从紫外到长波红外的任何类型的激光系统上进行带有自适应光学的光束鉴定和校正：连续高功率、飞秒太瓦和拍瓦链、固态激光器、OPCPA、气体激光器、可调激光器...
完整的光束参数计量：单次光束轮廓仪 + 波前像差测量
基于其专有的专利技术，Phasics 的波前传感器同时提供具有无与伦比的高分辨率的相位和强度测量。SID4 波前传感器与其光束分析软件相结合，可提供激光的完整诊断：波前像差、强度分布、激光束质量参数（M2、束腰尺寸和位置等）。鉴定在单次采集中执行。Phasics 的波前分析仪可以放置在光学装置的任何点，无论光束是准直的还是发散的。Phasics SID4 波前传感器适用于任何从紫外到远红外的连续或脉冲激光，包括宽带可调谐光源、拍瓦级激光链等。
激光系统对准
利用 SID4 波前传感器的易用性来掌握光学系统对准
SID4 波前传感器为执行光学系统对准带来了许多优势。首先，SID4 的范围涵盖了大量波长光谱：紫外、可见光、NIR、SWIR、MWIR 和 LWIR。其次，SID4 结构紧凑且易于对准，这使得测量易于实施。最后，高分辨率、大动态范围和纳米灵敏度确保了准确和稳健的波前鉴定。Phasics SID4波前传感器为工程师、研究人员和制造商提供了最佳的光学系统对准和认证解决方案。
等离子和气体喷射计量
使用高分辨率相位成像的简单且高灵敏度的诊断工具
SID4 密度计是一种简单且极其灵敏的解决方案，适用于中性气体和等离子体密度测量。它依赖于使用我们的高分辨率波前传感器 SID4 HR 进行直接相移测量。Phasics 密度模块解决了等离子体源设计、激光尾流场加速 （LWFA） 和高场科学实验的工程师和研究人员面临的等离子体和气体密度测量挑战。
致谢：
等离子体的工作是在 LOASIS， LBNL（现在称为 BELLA（伯克利实验室激光加速器）中心）开创的。该解决方案是 SourceLab 和 Phasics 之间卓有成效的合作成果。SourceLab 带来了其在激光-等离子体相互作用实验方面的顶级专业知识，而 Phasics 则在相位测量和分析方面拥有强大的专业知识。
自适应光学
使用任何光束整形设备（可变形镜和空间光调制器）轻松实现自适应光学控制
Phasics 自适应光学解决方案与任何可变形光学器件兼容：任何供应商和任何技术，例如压电可变形镜、机械可变形镜、电磁可变形镜和 MEMS 可变形镜，以及空间光调制器和自适应透镜。对于超快和超强激光的校正，Phasics 自适应光学回路通过波前像差补偿实现最精细的校正，直到真空下的最后一个聚焦光学元件。OASys 自适应光学回路结合了 Phasics 独特的高分辨率 SID4 波前传感器和最适合项目要求的可变形镜装置;由于 OASys 专家控制软件，自适应光学回路是闭合的。Phasics 的专家为可变形反射镜的选择和实施提供有见地的指导，以适应您的应用，提出最佳设计，并在激光系统上安装自适应光学回路。Phasics自适应光学环为工程师、研究人员和制造商在研发和生产环境中提供了全面的多功能性。
